技术介绍：

   通过对被检试件进行局部磁化，当材料表面出现裂纹或坑点等缺陷时，形成缺陷表面局部区域的漏磁场，漏磁信号随缺陷几何形状的不同而变化，采用像霍尔器件这样的磁传感器组成的检测电路来检测漏磁场的变化，根据测得的漏磁信号就可以判别缺陷情况。

技术原理：